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检索条件"作者=聂国健"
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内外电子元器件质量等级体系研究
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《电子产品可靠性与环境试验》2008年 第5期26卷 1-8页
作者:郑丽香 聂国健 周军连工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 
质量等级是电子元器件设计选择、采购验收、筛选和检验的重要依据,是影响元器件使用可靠性的重要因素之一。全面、深入地剖析了内外电子元器件生产保证与可靠性预计的两种质量等级体系,给出了内外详细的质量等级标识及对应关系,并...
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基于面向对象思想的软件系统分析与设计
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《电子产品可靠性与环境试验》2020年 第6期38卷 24-28页
作者:陈泫文 邹昶 聂国健 葛智君工业和信息化部电子第五研究所数据中心广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 工业装备质量大数据工业和信息化部重点实验室广东广州510610 广东省高端装备质量大数据工程技术研究中心广东广州510610 
软件系统分析与设计是软件全生命周期的重要内容,是对软件需求的建模,也是编程实现的依据和软件测试的参考。面向对象思想以其独特的特征和优势,不仅使得软件系统分析与设计工作更加规范和工程化,同时也为软件系统的编程实现及扩展升级...
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复杂系统动态故障树分析方法及其应用研究
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《电子产品可靠性与环境试验》2020年 第3期38卷 1-6页
作者:聂国健 雷林林 葛智君 罗剑武工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 
复杂系统在进行动态故障树分析计算时,会出现由于"组合爆炸"而导致计算极其复杂,甚至无法计算的问题,为了解决这一问题,提出了一种基于模块化思想的动态故障树分析方法。该方法首先将动态故障树模块分解,得到独立的静态子树...
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典型模拟电路性能退化仿真技术研究
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《吉林大学学报(信息科学版)》2020年 第3期38卷 243-249页
作者:聂国健 于迪 常玉春 刘岩 杨云 李欣荣工业和信息化部电子第五研究所可靠性数据中心广州510610 大连理工大学微电子学院辽宁大连116000 
为解决典型模拟电路在设计阶段可能引入的性能退化问题,通过分析内外电路虚拟验证技术研究进展,并针对引起模拟电路性能退化的HCI(Hot Carrier Induced)、NBTI(Negative Bias Temperature Instability)、TDDB(Time Dependent Dielectr...
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基于试验数据的军事网络系统可靠性评估技术
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《电子产品可靠性与环境试验》2020年 第4期38卷 37-43页
作者:杨洪旗 聂国健 杨礼浩 刁斌 潘勇工业和信息化部电子第五研究所数据中心广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 工业装备质量大数据重点实验室广东广州510610 广东省高端装备质量大数据工程技术研究中心广东广州510610 
军事网络系统具有多任务、多状态、跨平台和复杂异构等特点,其可靠性水平对整体作战能力的形成至关重要。由于基于GJB 899A的可靠性验证方法难以实施,而一般的网络可靠性评估方法又难以如实地反映军事网络系统的使用场景和可靠性水平,...
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电子元器件综合优选信息系统
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《电子产品可靠性与环境试验》2005年 第B12期23卷 38-42页
作者:郑丽香 古文刚 杨培亮 聂国健 张增照 林长苓 马阳华信息产业部电子第五研究所可靠性数据研究中心广东广州510610 
电子元器件是电子装备的基础,是保证装备高可靠性的基本单元。严格控制选用元器件的质量,保证和促进高质量元器件的应用是提高装备质量与可靠性水平的关键。综合优选信息系统为电子元器件的选用和管理提供全面、准确和动态的信息,是设...
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