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NBTI机制下运算放大器的性能退化分析及其可靠性设计: 收藏
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引用; 《电子器件》2016年第3期39卷 591-595页; 作者：花修春李小进石艳玲华东师范大学信息科学技术学院上海200241; 随着CMOS器件尺寸的不断缩小,集成电路设计阶段的可靠性问题变得愈加重要,NBTI效应作为重要的可靠性问题之一得到了大量的研究,并从电路级对其提出了改进。采用等效电路模型表征NBTI退化对模拟电路的影响,研究了两级运算放大器在NBTI效...; 随着CMOS器件尺寸的不断缩小,集成电路设计阶段的可靠性问题变得愈加重要,NBTI效应作为重要的可靠性问题之一得到了大量的研究,并从电路级对其提出了改进。采用等效电路模型表征NBTI退化对模拟电路的影响,研究了两级运算放大器在NBTI效应影响下电路参数的退化,分析并确定了影响传统两级运算放大器性能的关键器件。在此基础上,对传统运放结构进行改进,引入反馈,使-3 d B带宽的退化量由27%降到了1%左右,从而减小NBTI退化对电路性能的影响。; 来源：详细信息评论

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