摘要：相位光栅(PG)标记是微位移测量系统的关键部件,提出了一种严格耦合波(RCWA)法与差分进化算法相结合的共振域PG标记设计方法,解决了标量衍射理论计算精度不足和参数遍历设计方法耗时太久的问题。基于自参考干涉位移测量模型,确定以测量光信噪比(SNR)之和最大为光栅标记设计的评价函数,并研究了不同入射光波长、偏振态和光栅周期下,RCWA法中空间谐波数与计算精度的关系。针对多波长照明微位移测量需求,利用所提方法进行了标记设计,并与常规设计方法进行了比对分析。结果表明:对于3.2μm周期的PG,横磁(TM)光照射时光栅占空比取0.484,槽深取161.5 nm,此时SNR之和可达到最大值586.63;较常规设计方法,所提方法设计PG标记的时间缩短到了其的0.2%,SNR之和最大提升比例可达到24.4%。

摘要：针对激光雷达测距系统的使用要求,通过对镀膜材料的光学特性、膜系设计和监控方法的分析,优化工艺参数,采用电子束真空镀膜的方法,同时加离子辅助系统,选用TiO2和SiO2氧化物硬质薄膜材料在HB830颜色玻璃基底上镀制窄带滤光膜。用maclod灵敏度算法分析膜层的相对灵敏度,减小厚度监控误差,改进制备工艺过程,寻求膜系的最佳控制方法。所镀膜层在垂直入射的条件下,905 nm波长的透过率达86%以上,半峰值宽度为23 nm,并且通过提高膜厚控制精度解决了中心波长漂移、膜层吸收等问题。该膜层能够承受激光光源的照射,抵御恶劣的使用环境。

摘要：根据光谱共焦位移传感器的工作原理及线性轴向色散条件,选择3种色散物镜用玻璃材料N-KZFS11、N-SF66和N-PK52A,并结合像差理论设计了由3个单透镜和2个双胶合透镜组合成的线性色散物镜初始结构。利用Zemax光学设计软件对色散物镜的初始结构进行优化和公差分析。结果表明:在450~650 nm波长范围内,各波长弥散斑均远小于艾里斑,色散物镜测量范围可达1.05 mm,轴向色散与波长之间的线性判定系数R^2达0.997,理论分辨率可达105 nm。

摘要：匀光系统的均匀性是实现深紫外CMOS图像传感器参数测试的关键。根据傅里叶光学理论,结合ArF准分子激光输出光斑特点,设计了复眼阵列匀光系统的初始结构,并在ZEMAX非序列模式下建立了匀光系统模型。针对ZEMAX光源中光线采样随机性的特点及匀光系统均匀性的要求,对追迹光线数目及复眼阵列中透镜元个数进行了优化。在透镜元大小为1mm、采用1亿根光线并做30次平均后,在12mm×12mm光斑范围内获得了均匀性为0.986的均匀照明光斑,满足CMOS图像传感器测试对光斑均匀性优于0.97的要求。

摘要：为快速准确地建立小麦-华山新麦草杂交后代的分子标记鉴定方法,采用150条10bp的随机引物R1-R150对华山新麦草、普通小麦7182、中国春及华山新麦草1Ns-7Ns全套二体附加系共10个材料进行了RAPD分析,从中获得了华山新麦草3Ns染色体上2个特异RAPD分子标记片段FR-113和FR-125。克隆这两个片段并测序,发现其全长分别为543bp和515bp;分析序列后对其分别设计SCAR引物S-113和S-125,重新对10个材料进行SCAR分析,结果只在华山新麦草和小麦-华山新麦草3Ns二体附加系上扩增出了特异条带,由此证明已将华山新麦草3Ns染色体上获得的两个RAPD标记成功转化为稳定可靠的SCAR标记。这两个SCAR标记可用于检测小麦背景下的华山新麦草3Ns染色体,同时为小麦-华山新麦草杂交后代提供了分子鉴定依据。

摘要：作为中国设计节的主办方，中国光华科技基金会一直致力于促进中国设计产业的发展，如今，“中国设计节”在行业内也越来越受到重视与关注。今年的中国设计节将于10月22日—124日在大连举行，对于这一以DDF为主要品牌标志的盛会，主办方希望通过这个活动平台扩大中国设计界与海外设计行业的交流与沟通，

摘要：以“绿色设计·产业升级”为主题的2009中国（大连）设计节10月22日在大连世界博览广场开幕，来自国内外知名设计组织、设计促进机构、设计师协会、设计院校和知名设计公司的精英，围绕国内外设计促进政策和以设计引领企业创新等内容发表精彩演讲。