摘要：介绍了VGA到TV视频转换的系统原理与总体架构,阐述了视频转换的色彩空间转换、UV减采样、去闪烁与缩放、副载波调制及数字电视编码等原理,应用减采样与过采样算法实现视频采样率转换。基于此结构,采用0.5μm CMOS工艺实现了一款VGA到TV数字视频转换芯片,芯片集成度15万门,芯片面积为6.67μm×6.35μm,系统时钟为27 MHz。实测结果表明,芯片实现了VGA到NTSC/PAL制电视的转换,适用于多分辨率、多制式视频转换系统。

摘要：为了降低数字信号处理器(DSP)电路在太空中发生单粒子翻转事件,本文从触发器单元、存储模块及电路系统三个层面论述了DSP的抗单粒子翻转加固设计。采用该抗单粒子翻转加固方法,实现了一款基于0.18μm CMOS体硅工艺的DSP电路,该电路逻辑规模约为150万门,面积为9.3 mm×9.3 mm。通过重离子加速器模拟试验评估,该DSP电路的单粒子翻转率约为4.37×10^(-11)错误/(位·天)(GEO轨道,等效3 mm Al屏蔽)。

摘要：存储单元的加固是SRAM加固设计中的一个重要环节。经典DICE单元可以在静态情况下有效地抗单粒子翻转,但是动态情况下抗单粒子翻转能力较差。提出了分离位线的DICE结构,使存储单元在读写状态下具有一定的抗单粒子效应能力。同时,对外围电路中的锁存器采用双模冗余的方法,解决锁存器发生SEU的问题。该设计对SRAM进行了多方位的加固,具有很强的抗单粒子翻转能力。

摘要：为消除VGA到TV视频转换中的图像闪烁及获得图像的TV显示,分析了闪烁产生及分辨率变换的机理.应用半带滤波及插值、迭代等算法,设计了一种水平垂直二维去闪烁滤波与图像缩放电路.该电路有效地解决了图像分辨率下降的问题,实现不同分辨率的VGA图像在TV上显示;同时减少了硬件逻辑资源,节省了芯片面积.整个电路规模约1万等效门,采用CSMC 0.5μm CMOS工艺流片,面积约1.75mm×2.86mm,经测试证明设计的电路功能正确.

摘要：航天器及其内部元器件在太空中会受到单粒子效应(SEE)带来的威胁,因此航天用电子器件在装备前必须进行抗SEE能力的测试评估。针对传统测试方法存在的测试系统程序容易在辐照过程崩溃、统计翻转数不准确、单粒子闩锁(SEL)辨别不清晰和忽略内核翻转统计等问题,设计了一种测试系统,通过片外加载与运行程序从而减少因辐照导致片内程序异常的现象;通过片外主控电路统计被测电路翻转数使统计翻转结果准确;通过主控电路控制被测电路时钟供给排除因频率增加导致电流过大而误判发生SEL的情况;通过内核指令集统计内核翻转数。实验结果表明,该测试系统可以实时全面地监测数字信号处理器(DSP)的SEE,并有效防止辐照实验器件(DUT)因SEL而失效。

摘要：双立互锁存储单元(DICE),在保持状态下是一种可靠有效的单粒子翻转(SEU)加固方法,但是,基于DICE单元的SRAM在读操作下会发生抗SEU失效.相比抗单个敏感节点翻转的效果,DICE抗多个敏感节点翻转的能力较弱.为此,在DICE结构的基础上采用读写分离机制,以解决DICE单元在读写过程中的节点翻转问题.同时,根据电阻加固原理,在DICE存储单元的节点之间增加NMOS管,即TDICE(Transistor DICE)结构,其利用晶体管隔离反馈回路中的节点间的连接,提高了SRAM的抗多节点翻转能力.Spectre仿真结果表明:基于TDICE单元的SRAM具有较强的抗单粒子翻转能力.

摘要：文章分析了电子元器件在空间辐照影响下的一些性能变化,考虑实际使用环境,设计了一种辐照加固的航空总线收发器电路。该电路主要实现在航空总线与协议处理电路之间信号转化的功能。与以往的双极工艺不同,文中所述的电路采用CMOS工艺结构,在实现高驱动能力、低噪声等性能的同时,降低了功耗。此外,还对电路结构进行改进,综合考虑了芯片面积等指标,选择采用体硅加固方式,有效提高了电路抗辐照的能力。收发器电路采用中微晶园单多晶双铝1.0μm工艺流片,面积约为6.45mm×6.55mm,经实验测试表明,电路抗辐照总剂量能力达到300kRad(Si)。

摘要：IP核可重用设计方法是未来大规模集成电路的主流设计方法。本文论述了在设计光网络终端ONT传输会聚(TC)层上行组帧中,一种将IP核模块与VHDL语言描述相结合的ATM信元存储方案,并用FPGA予以实现,得出IP核设计方法的优越性。

摘要：为了研究深亚微米SOI工艺NMOS器件的瞬时剂量率效应,采用TCAD工具对0.13μm SOI工艺H型NMOS器件进行三维建模仿真。选取γ剂量率在1×10^8~1×10^10(Gy(Si)/s)的7个点,模拟了H型NMOS器件开关两种状态下的漏电流及体接触端电流与γ剂量率之间的数值关系。从模拟结果可以看出,γ剂量率在小于5×10^9 Gy(Si)/s的辐照时对器件影响很小。表明了该结构器件具有较强的抗瞬时剂量率辐射能力,为超大规模集成电路抗瞬时剂量率加固设计提供了依据。

摘要：本文提出了评估DSP电路单粒子翻转效应的试验方法,该方法包含单独静态检测SRAM、通过CPU读取内部寄存器和功能检测等三种方式.根据该方法,设计了DSP电路的单粒子翻转检测软件系统和硬件检测系统,并在HI-13串列重离子加速器上进行了单粒子翻转验证试验,获得了待测DSP器件的地面模拟翻转率数据.利用在轨错误率计算软件,计算出在标准辐照注量(1.0E+7icons/cm2)下电路的SEU在轨软错误率约为1.8E-12错误/位天(GEO,等效3mm Al屏蔽),运用该方法可以较好的评估DSP电路的单粒子翻转性能.