限定检索结果

正在载入数据...
检索条件"作者=虞勇坚"
5 条 记 录,以下是1-10 订阅
热插拔损伤电路的失效分析及整改
收藏 引用
《电子与封装》2021年 第12期21卷 26-30页
作者:高嘉平 王彬 司耸涛 虞勇坚中科芯集成电路有限公司江苏无锡214072 
对3100块板卡进行测试,其中2653块出现问题,不良率达到了86.6%,故障板卡上机后不能正常运行,且出现了供电电源短路的现象。对故障板卡进行技术分析之后发现,MCU有管脚被异常电压、电流击穿,导致管脚对地端、对电源端短路。客户在使用设...
来源:详细信息评论
电动车控制器中MCU失效分析及整改措施
收藏 引用
《电子与封装》2021年 第12期21卷 20-25页
作者:孙运涛 王彬 王云飞 虞勇坚中科芯集成电路有限公司江苏无锡214072 
目前32位微控制器(MCU)在各个领域应用广泛。因其强大的运算能力,几乎占据了电动自行车控制器应用领域主控芯片70%以上的份额。针对某型号电动自行车控制器产品发生的失效现象,从终端应用场景出发,结合电动自行车控制器原理对失效芯片...
来源:详细信息评论
基于AEC标准的汽车芯片可靠性测试方法研究
收藏 引用
《电子设计工程》2023年 第14期31卷 103-106,112页
作者:王敦 章慧彬 张凯虹 虞勇坚 闫辰侃中科芯集成电路有限公司江苏无锡214072 无锡中微腾芯电子有限公司江苏无锡214028 
近年来,自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术,解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性,保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准,该文基于国际AEC-Q100系列标准,结合可靠性加速...
来源:详细信息评论
基于容抗法的C_(DM)测试技术设计
收藏 引用
《电子质量》2023年 第2期 69-72页
作者:刘晓 李帅达 陈光耀 魏然 戴莹 吕栋 虞勇坚中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 陆装驻哈尔滨地区第一军事代表室黑龙江哈尔滨150000 
网络运放输入差模电容可通过电容不同特性计算推导,而实际测试设备的精度往往无法达到理论推导结果的准确性,这主要是由于运放差分输入OFFSET问题导致差分输入信号无法达到完全一致。首先,为了深入地了解寄生电容的主要产生机制,对传统B...
来源:详细信息评论
国产化元器件替代可靠性评价与验证技术研究
收藏 引用
《环境技术》2023年 第5期41卷 50-54页
作者:江徽 虞勇坚 王鹏飞 王倩倩 宋国栋中国电子科技集团公司第五十八研究所无锡214035 
国产化元器件在设计、工艺、原料等方面同进口元器件存在差异性,国产化元器件直接引入与应用会对终端产品可靠性产生影响,因此,需要制定相应评价与验证的质量保障体系,以确保终端应用产品的安全可靠。本文通过对国产化元器件选型标准与...
来源:详细信息评论
聚类工具 回到顶部