T=题名(书名、题名),A=作者(责任者),K=主题词,P=出版物名称,PU=出版社名称,O=机构(作者单位、学位授予单位、专利申请人),L=中图分类号,C=学科分类号,U=全部字段,Y=年(出版发行年、学位年度、标准发布年)
AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
范例一:(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二:P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016
摘要:对3100块板卡进行测试,其中2653块出现问题,不良率达到了86.6%,故障板卡上机后不能正常运行,且出现了供电电源短路的现象。对故障板卡进行技术分析之后发现,MCU有管脚被异常电压、电流击穿,导致管脚对地端、对电源端短路。客户在使用设计时对出现该问题的管脚未做任何相应的热插拔防护。根据客户板卡的实际应用情况,对该款板卡出现问题的管脚线路增加瞬态二极管(Transient Voltage Suppressor,TVS),减小浪涌冲击,使量产良率达到合格标准。
摘要:目前32位微控制器(MCU)在各个领域应用广泛。因其强大的运算能力,几乎占据了电动自行车控制器应用领域主控芯片70%以上的份额。针对某型号电动自行车控制器产品发生的失效现象,从终端应用场景出发,结合电动自行车控制器原理对失效芯片进行了分析。确认了电动自行车控制器的失效原因、MCU的失效机理,并进行了复现比对。对电动自行车控制器设计上的缺陷进行了改善,有效提高了电动自行车控制器的可靠性和成品率。
摘要:近年来,自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术,解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性,保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准,该文基于国际AEC-Q100系列标准,结合可靠性加速因子,研究了可靠性测试方法以及数据管控方法,根据参数零件平均测试PPAT方法,优化了静态PAT和动态PAT测试流程,为提高国产汽车芯片质量可靠性提供一定的参考依据。
摘要:网络运放输入差模电容可通过电容不同特性计算推导,而实际测试设备的精度往往无法达到理论推导结果的准确性,这主要是由于运放差分输入OFFSET问题导致差分输入信号无法达到完全一致。首先,为了深入地了解寄生电容的主要产生机制,对传统Bipolar器件和CMOS器件的结构以及等效模型进行了分析介绍;然后,分别根据运放频域特性和寄生电容的充放电特性原理,对运放的输入差分寄生电容进行推导;最后,利用仿真方法对测试结果进行了验证。结果表明,采用容抗法测得的结果更接近于真实值,从而验证了所提出的方法的有效性,对于提高差模电容测试精度具有重要的意义。
摘要:国产化元器件在设计、工艺、原料等方面同进口元器件存在差异性,国产化元器件直接引入与应用会对终端产品可靠性产生影响,因此,需要制定相应评价与验证的质量保障体系,以确保终端应用产品的安全可靠。本文通过对国产化元器件选型标准与供应商管理,国内外元器件性能与结构比对分析,板级应用层面的可靠性验证与评价等相关技术内容的研究,构建了一套系统的国产化元器件替代可靠性评价与验证体系,为国产化元器件的导入与应用评价提供指导。
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