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薄片样品霍尔迁移率的无接触测试和计算
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《固体电子学研究与进展》1992年 第2期12卷 141-146页
作者：褚幼令 王宗欣 许瓯复旦大学物理系上海200433 
设计了一种微波介质波导探头用于无接触测量半导体薄片样品的霍尔迁移率。它具有体积小、被测薄片样品大小不受限制等优点。在直流磁场变化时,无接触测试了一组n型硅薄片样品的横向磁阻,讨论了磁阻的计算方法及考虑样品的晶向后,由磁阻...
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