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XPS在酞菁类有机半导体研究方面的应用
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《真空科学与技术》2000年 第1期20卷 55-59页
作者：徐明生 季振国 袁骏 许倩斐 阙端麟 陈红征 汪茫浙江大学硅材料国家重点实验室杭州310027 浙江大学高分子科学与材料研究所杭州310027 
作为探测分子和样品表面和界面的电子结构的有效手段 ,XPS能够为材料及器件的设计提供有价值的信息。本文从定量分析、生长模式。
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