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激光式杂质探测仪的系统设计
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《电子测量与仪器学报》2005年 第4期19卷 88-90页
作者:明军 许先燔安徽大学计算智能与信号处理教育部重点实验室合肥230039 
依据激光式杂质探测的基本原理,采用彩色分辨率、尺寸分辨率两个参数,作为反射式杂质探测系统的基本指标,由此导出系统的设计参数,并给出一个完整的设计参数实例。该方法对实际工程的实现具有重要的指导意义,由此开发的智能型杂质在线...
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