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SOC芯片设计与测试
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《半导体技术》2004年 第6期29卷 64-67,75页
作者:谈颖莉 戎蒙恬上海贝岭技术中心上海200233 上海交通大学上海200030 
SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。
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RFIC接收机结构的选择
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《集成电路应用》2004年 第10期21卷 36-40页
作者:谈颖莉上海贝岭股份有限公司 
随着无线通信应用的普及,射频接收机电路的设计越来越得到人们的关注。而射频接收机的结构选择是电路实现前必须面临的问题。合理地选择接收机结构将有利于系统在功耗、成本和性能指标上的实现。
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