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先进光谱椭偏测量技术及其在OLED中的应用
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《微纳电子与智能制造》2020年 第2期2卷 41-62页
作者：谷洪刚 柯贤华 丁可 赵雪楠 李先杰 刘世元华中科技大学机械科学与工程学院武汉430074 武汉华星光电半导体显示技术有限公司武汉430078 武汉颐光科技有限公司武汉430075 
阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器。利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其...
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