摘要：由于仿真不收敛等问题,仅依靠EDA仿真很难实现集成电路(IC)稳健性设计.提出了利用响应曲面(RSM)与电路仿真相结合对集成电路进行稳健性优化设计的方法.并将该方法应用于带隙基准电路稳健优化设计.通过Hspice电路仿真与统计试验设计(DOE),仅利用27组试验建立了3目标值、4参数电路的响应曲面模型.并基于该模型对电路进行稳健性设计,优化确定的参数组合满足电路指标,同时对温度的变化更加不敏感.

摘要：设计了一种具有快速瞬态响应能力的低漏失稳压器,利用提出的一种瞬态响应加速(Transient Response Enhancement,TRE)电路,有效地提高了稳压器的瞬态响应速度,而且瞬态响应速度的提高并不增加静态电流.设计的LDO电路采用0.5μm标准CMOS工艺投片验证,芯片面积为0.49mm2.该LDO空载下的静态电流仅23μA,最大带载200mA.在1μF输出电容、200mA/100ns负载阶跃变化时的最大瞬态输出电压变化量小于3.5%.

摘要：相关模型参数的确定是Kriging模型构造的关键,讨论了利用传统数值优化方法,如模式搜索方法,确定相关参数存在依赖搜索起始点等缺点;利用遗传算法获得满足目标函数全局最小情况下的相关模型参数,解决了模型的构造对起始点依赖的问题;将遗传算法与改进后的Kriging模型结合,基于近似模型对系统进行全局最优化.

摘要：本文提出了集成电路(IC)多目标统计设计中的效益折衷方法。该方法可帮助设计者确定所选用的多目标优化的非劣解。

摘要：集成电路的设计与优化常需要指标与参数简单、直接的模型,即电路的元模型.本文将试验设计与计算机仿真相结合构造集成电路的元模型.讨论了构造元模型中使用的4种试验设计类型与3种模型.结合低功耗集成运算放大器性能指标静态功耗元模型的构造,分析比较了不同方法的各自特点.从结果可以看出,将拉丁超立方抽样与Kriging模型相结合最适合仿真试验中的电路元模型的构造.

摘要：电路系统的设计与优化常常需要参数与指标间简单、直接的模型,即电路的元模型。本文将Kriging插值和拉丁超立方抽样试验相结合构造了低功耗集成运算放大器的元模型。对于这种输出结果为确定值的电路仿真试验,与基于传统部分要因试验设计的多项式回归模型相比,Kriging模型具有更高的预测能力。

摘要：利用片内补偿实现了一款单片电流模降压型DC-DC变换器。设计的分段线性斜坡补偿电路大大缓解了传统线性方法的过补偿问题,提高了系统响应速度。集成的RC频率补偿结构克服了稳定性对输出负载以及陶瓷输出电容ESR的依赖,简化了设计,节省了PCB面积。芯片基于标准0.5μm CMOS工艺实现,内部补偿实现了良好的环路稳定性,负载调整率以及线性调整率均小于0.4%,400 mA负载阶跃对应输出电压的响应时间小于8μs。同步整流技术使得效率高达94%。

摘要：提出了一种适用于电流模DC-DC的片内频率补偿结构,针对其采用低有效串联电阻陶瓷输出电容的特点,通过片内集成的阻容网络完成环路的频率补偿,克服了稳定性对输出负载的依赖,减少了芯片引脚,节省了印制板面积,实现了芯片的高稳定性.同时通过优化反馈网络设计,实现了交越频率不随输出电压变化,进一步改进了阶跃响应.该结构在一款0.5μm CMOS工艺的降压型DC-DC中进行了投片验证,测试结果显示了良好的稳定性,负载调整率以及线性调整率均小于0.4%,400 mA负载阶跃对应输出电压的响应时间小于8μs,同时应用印制板面积减小了14%.

摘要：现代集成电路(IC)的优化设计主要依靠EDA工具完成。但是针对多指标、多参数的IC设计,单纯依靠EDA工具存在效率低以及指标和参数个数限制等问题。从试验设计技术出发,以EDA仿真作为实验,建立指标与参数的统计模型,进而优化设计电路,解决了上述问题。将该方法应用于4参数、3指标的低功耗集成运放的设计,仅通过16轮仿真试验,得到了电路指标最优情况下的参数设置。该方法对多指标、复杂参数的集成电路的优化设计更具优越性。

摘要：该文在考虑电路接受域R_A可变化的情况下提出了根据效益极大原则的集成电路(IC)多目标优化设计方法,并给出了效益极大化逼近函数的推导过程.以电路最优设计为例证明了以效益极大代替分层成品率极大在多目标优化中的必要性.