摘要：全球新冠疫情与逆全球化等大变局冲击下,我国产业技术链面临巨大风险。识别产业技术链风险,需要基于科学的评价方法对其进行全面评估。基于技术差距和资源依赖理论,构建“技术水平差距、技术价值和可替代性”三维度的风险测度模型。选择芯片领域3大环节、共15个主要技术为样本,443285条发明专利数据,测度中国内地、日本、韩国、美国、欧洲等五国(地区)芯片产业技术链的结构、运行情况、面临的风险及多阶段演化特征。研究发现,日本和美国的芯片产业技术链的风险指数最小,中国内地面临的风险最大;美国在IC设计环节、日本在IC制造环节的风险指数长期处于最低位置,韩国和欧洲在各环节均面临一定风险,中国内地在各环节面临的风险均呈下降趋势,但仍较大。研究丰富了产业技术链风险的理论内涵及测度维度,基于发明专利数据的全量化测度方法,为全面开展产业技术链风险评价提供了新的方法论。研究结果对国际技术形势研判、产业链风险预测和排查、提高产业技术链韧性等具有启示意义。

摘要：项丽瑶、赵一智、俞荣建在《科学学研究》2024年第2期撰文指出,从全时间段看,中国内地在整体层面面临的风险最大,韩国次之,欧洲处于中间位置,日本和美国的风险指数最小;从环节层面看,日本在IC设计环节面临的风险较大,中国内地和韩国则在各环节均面临较大风险,且在IC设计环节最为严重。

摘要：破解关键核心技术被“卡脖子”困局,需要对我国关键技术的国际依赖进行科学评价。针对技术依赖研究的理论争议和测度方法问题,基于资源依赖理论视角构建“结构差异、水平差距、技术价值和可替代性”四维技术依赖测度模型,选择芯片技术领域4大类技术模块、共15个主要技术为样本,共443 285条发明专利数据,测度中国、日本、韩国、美国、欧洲等五国(地区)((1))芯片技术的二元技术依赖关系(单向和双向)、国际技术依赖网络结构,多层次技术依赖格局和多阶段演化特征,以及各国面临的技术威胁。研究发现:日本和美国在芯片技术国际依赖网络中占主要地位,中国具有一定节点入度、但处依赖明显劣势,难以形成反制能力。国际技术依赖网络日趋复杂,美国和日本等优势仍然显著、但有所减弱,各国(地区)之间依赖明显不均衡。日本和美国面临的技术威胁较小但逐渐上升,中国面临的技术威胁虽呈下降趋势,但在材料、设计、制造模块面临的技术威胁依然较大。研究丰富了技术依赖的理论内涵,并确立了技术依赖的四个维度理论结构。基于发明专利数据的技术依赖测度方法,为我国关键核心技术开展全面的安全评价提供了新的方法论。技术依赖网络结构分析方法,为技术威胁评价提供新的视角。研究结果对国际技术形势研判、技术威胁预测和排查以及科技战略部署等具有启示意义。