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基于FIB-SID技术的三维金属无源电感制备与测试
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《中国材料进展》2013年 第12期32卷 742-745,751页
作者:毛逸飞 王志强 赵路睿 吴文刚 徐军北京大学微米/纳米加工技术国家重点实验室北京100871 北京大学深圳研究院广州深圳518000 北京大学电子显微镜实验室北京100871 
重点研究了聚焦离子束的相关原理和应用。利用聚焦离子束应力引入致形变(Focused Ion Beam Stress-Introduced Deformation,FIB-SID)技术与常规微加工工艺相结合,制备微型金属无源螺旋电感的设计方法和工艺流程,并对其电学性能进行初步...
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