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“K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究: 收藏
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引用; 《华南地质》2022年第2期38卷 312-320页; 作者：邬健强刘磊洪旭程刘道涵刘永亮中国地质调查局武汉地质调查中心(中南地质科技创新中心)湖北武汉430205 浙江省工程物探勘察设计院有限公司浙江杭州310000 中国地质科学院岩溶地质研究所广西桂林541004; 高密度电阻率法因其成本低、效率高等优点而被广泛应用,而对于低电阻率地质背景的区域,如白垩系粉砂岩分布区,其效果并不理想甚至无法分辨有效异常。基于此,笔者通过两个不同地质背景的实例,将高密度电阻率法的结果与通过“K”反射系数...; 高密度电阻率法因其成本低、效率高等优点而被广泛应用,而对于低电阻率地质背景的区域,如白垩系粉砂岩分布区,其效果并不理想甚至无法分辨有效异常。基于此,笔者通过两个不同地质背景的实例,将高密度电阻率法的结果与通过“K”反射系数法处理后的结果进行了对比应用研究,研究结果表明:(1)相比视电阻率剖面图,“K”反射系数法得到的“K”剖面图能够有效的放大深部地质弱信号,突出局部异常,且异常位置与钻孔结果对应良好;(2)相比钻孔处的单支视电阻率测深曲线,“K”反射系数法得到的单支“K”曲线对地下的解释更加精细,分辨率更高。; 来源：详细信息评论

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