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基于调试异常模型的嵌入式处理器片上调试设计: 收藏
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引用; 《浙江大学学报（工学版）》2010年第6期44卷 1067-1072页; 作者：刘鹏钟耿徐国柱邬可俊浙江大学信息与电子工程学系浙江杭州310027 杭州士兰微电子股份有限公司浙江杭州310012; 针对调试的可移植性,建立同流水相关的精确调试异常模型,模型通过增加调试中断、单步、软硬件断点等精确调试异常的产生和处理机制、片外调试存储空间以及基于JTAG(joint test action group)的快速通信协议,实现一种通过JTAG接口的嵌入...; 针对调试的可移植性,建立同流水相关的精确调试异常模型,模型通过增加调试中断、单步、软硬件断点等精确调试异常的产生和处理机制、片外调试存储空间以及基于JTAG(joint test action group)的快速通信协议,实现一种通过JTAG接口的嵌入式处理器核的片上调试方案.该调试模型在嵌入式处理器RISC32E核的应用实现表明,它具有良好的可观察性和可控制性,并且该模型的应用不局限于六级流水结构的微处理器,还可以方便地推广到其他流水结构的微处理器.对比调试过程中的一些基本调试操作开销,该调试方案具有较高的调试效率.; 来源：详细信息评论

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