摘要：目前,在实际生产中对于时序控制器的质检仍采用人工检测的方式,测试效率低下,严重制约了液晶显示器的后道生产。针对此问题,提出了一种新的自动测试方案,以围绕现场可编程门阵列设计的测试母板为核心,结合工控主机与可编程逻辑器件,在生产实践的基础上,给出了新型测试系统的具体设计思路,并且按照此设计思路制造了一套新型的测试系统。生产应用的结果表明,相比传统的测试方案,新型的测试系统在效率性,可靠性方面有着显著的优势,能极大提升检测效率,降低人工成本,具备良好的推广价值。

摘要：本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。

摘要：文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99％。

摘要：本文首先简要地介绍了基于扫描的DFT技术,然后具体结合一种控制芯片,通过对两种测试方法的比较,说明了DFT对芯片测试向量、故障覆盖率及测试成本等的影响。

摘要：本文从ASIC设计角度介绍了支持漫游的新一代FLEX解码器的组成、原理及其ASIC实现 ,并在FPGA上成功得到验证。