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数字IC可测性设计和自动测试生成技术
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《微电子学》1998年 第5期28卷 362-364页
作者：刘明远 邵锦荣中国华晶电子集团公司中央研究所 
描述了一种自动局部扫描可测性设计方法，该方法在电路内部提供附加逻辑，把时序元件串成一条扫描通路，辅以适当的控制信号，使时序元件和组合元件分离开，从而达到可测试的目的。介绍了一种改进的ＰＯＤＥＭ测试生成算法和一种基于模...
来源：详细信息评论
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