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底填工艺无铅焊点的热疲劳可靠性研究
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《电子产品可靠性与环境试验》2021年 第6期39卷 35-40页
作者:梅聪 张龙 郑佳华 罗鹏 王磊 曹柏海东莞长城开发科技有限公司广东东莞523900 深圳长城开发科技股份有限公司广东深圳518035 
电子产品各个组件间的热膨胀系数(CTE)不匹配是导致焊料蠕变和焊点热疲劳开裂的根本原因。为了研究底部填充工艺对改善球栅阵列封装焊点的可靠性的影响,设计可靠性实验探讨了在热循环老化条件下无底填工艺和有底填工艺下焊点的寿命变化...
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