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基于单片机AT89C52的漏磁检测实验系统开发
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《机电产品开发与创新》2005年 第1期18卷 98-100页
作者：郭众宝 孙远翔 唐永刚北京理工大学机电工程学院北京100813 
本文介绍了基于单片机技术的漏磁检测系统。首先介绍了漏磁检测的原理,然后结合电子电路技术,单片机技术,开发了一套漏磁检测实验系统。该系统包括信号的采集,预处理,模/数转换,数据结果存储,数据串口发送。单片机的软件系统采用模块化...
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