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基于相位相关与块匹配的纳米精度微器件平面动态测量
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《光学技术》2007年 第2期33卷 269-272页
作者:金翠云 王建林 靳世久 栗大超 胡晓东北京化工大学信息科学与技术学院北京100029 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 
为测量MEMS谐振器周期运动过程中各个时刻的运动特性及其动态特性参数,结合微器件的特征,利用光学的方法对MEMS器件进行了运动分析。提出了基于相位相关与块匹配相结合的运动检测技术,并对MEMS器件的运动图像序列做了分析与处理,得到了...
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MEMS动态测试中频闪同步控制系统
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《天津大学学报(自然科学与工程技术版)》2005年 第1期38卷 47-51页
作者:胡春光 胡晓东 金翠云 栗大超 郭彤 傅星 胡小唐天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 
频闪同步控制系统是微机电系统(MEMS)动态测试系统中的重要组成部分.为了满足MEMS发展对测试系统的需求,基于频闪成像技术,设计了一套频闪同步控制系统,用于采集高速运动的MEMS器件的清晰图像.系统采用虚拟仪器方式,通过软件控制波形发...
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MEMS动态测试系统中频闪驱动电路的实现
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《仪器仪表学报》2003年 第Z1期24卷 380-382页
作者:金翠云 李一博 靳世久 王立坤天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 
在 MEMS动态测试过程中 ,由于 MEMS器件的运动频率都比较高 ,如何获得高速运动的 MEMS器件的清晰图像 ,是MEMS动态特征提取与分析的前提。本文基于机器微视觉的 MEMS动态测试系统 ,设计了一套频闪驱动电路 ,用于采集高速运动的 MEMS器...
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创意视角下的南京大报恩寺佛教文化旅游开发
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《产业与科技论坛》2012年 第2期11卷 29-32页
作者:陆琼 黄祥君 金翠云三江学院文化产业与旅游管理学院 
佛教在中国将近两千年的发展历程中,留下了庞大的文化遗产,佛教文化旅游是我国一项重要的旅游项目。南京大报恩寺地宫考古发掘中发现的佛顶真骨盛世重光,南京将重建大报恩寺塔永久供奉佛祖舍利,使南京成为佛教文化传承之地,成为佛教信...
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基于块匹配技术的ME MS器件平面微运动特性的测量
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《吉林大学学报(工学版)》2004年 第3期34卷 445-448页
作者:金翠云 栗大超 靳世久 王立坤 李一博天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 
为测量MEMS谐振器周期运动过程中各个时刻的运动特性及其动态特性参数,基于频闪成像原理得到了MEMS谐振器一个周期内各时刻的清晰运动图像,利用块匹配技术对MEMS谐振器的运动图像进行处理,从而得到其特性参数,为MEMS器件的设计提供重要...
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基于光流技术的MEMS器件平面微运动测量
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《电子测量与仪器学报》2007年 第1期21卷 90-95页
作者:金翠云 靳世久 王建林北京化工大学信息科学与技术学院北京100029 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 
为测量MEMS谐振器周期运动过程中各时刻不同相位的运动特性及其动态参数,提出利用光学测量方法,设计基于机器微视觉的MEMS动态分析仪。其实现机理是基于频闪成像原理获得MEMS谐振器一个周期内所需相位的清晰运动图像,结合光流技术对MEM...
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小波变换及其在MEMS谐振器运动轨迹的特征提取中的应用
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《光学精密工程》2004年 第3期12卷 282-286页
作者:金翠云 栗大超 靳世久 冯亚林 李一博 郝一龙天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 北京大学微电子学研究院北京100871 
为测量微电机械系统(MEMS)谐振器的动态特性参数,根据MEMS谐振器运动图像的特点,将小波变换应用于MEMS谐振器运动轨迹的特征提取中。基于模糊图像合成技术,利用小波变换对MEMS谐振器的模糊运动图像进行了增强及降噪处理,并结合传统的图...
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EL6249C及其在MEMS动态测试中的运用
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《国外电子元器件》2003年 第12期 12-15页
作者:金翠云 李一博 王立坤 靳世久天津大学精仪学院天津300072 
EL6249C是美国Elantec半导体公司推出的四通道激光二极管电流放大器。文中根据频闪成像原理 ,利用EL6249C设计了一套频闪驱动电路 ,该驱动电路可驱动高亮LED ,以产生MEMS动态测试中所需的频闪光 ,为后续MEMS器件的动态特性提取和分析做...
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频闪干涉仪在微机电系统动态表征中的应用
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《纳米技术与精密工程》2004年 第4期2卷 294-298页
作者:郭彤 胡春光 胡晓东 栗大超 金翠云 傅星 胡小唐天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072 
微机电系统(MEMS)测试的主要目的是为工程开发中的设计和模拟过程提供数据反馈,其中一个重要方面就是MEMS器件动态特性的高速可视化.介绍了一种基于计算机控制的频闪干涉测试系统,用来测量可动MEMS器件的离面运动,实现了纳米级分辨力....
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基于计算机视觉的MEMS测试系统
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《微纳电子技术》2003年 第7期40卷 221-223,234页
作者:冯亚林 栗大超 金翠云 郝一龙 张大成 靳世久北京大学微电子所北京100871 天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室天津300072 
根据MEMS测试的要求 ,设计并实现了一种基于计算机视觉的MEMS测试系统。该系统是一个典型的光、机、电、算集成的MEMS测试系统 ,已应用于MEMS微结构几何尺寸和动态特性等的测量。因采用了亚像元定位技术 ,系统具有较高的测量精度。应用...
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