摘要：针对目前工业现场HD-SDI测试环境搭建复杂、成本高、SDI传输特性测量难度大的特点和需求,设计和开发了一种基于FPGA的多路HD-SDI测试系统。首先通过FPGA读取存储在SD卡中的图像数据,然后将读取的数据缓存在DDR3中,最后通过FPGA解析和处理后发送给外部的SDI串化器和SDI线缆驱动器,完成多路HD-SDI标准图像的输出。实验结果表明,该测试系统满足HD-SDI传输协议的标准和要求,可用于模拟不同场景下的测试环境和标定现场,并且还具有操作简单、适用性广的优点。

摘要：为实现简单可靠的板卡功能扩展,设计了一种基于FPGA控制的集成式测试系统,给出了背板总线的详细设计,并讨论了背板总线的数据同步、仲裁机制等关键设计,介绍了基于CY7C68013A芯片的USB2.0总线设计、功能卡的数据传输模式。该系统背板总线具备50 MB/s的瞬时传输速率,支持最多挂接6块功能卡同时工作,目前已成功应用于某产品研制过程中的环境试验。

摘要：针对HD-SDI高清即高分辨率高传输速率的要求,提出了一种基于FPGA的高清视频采集系统,并给出了详细的系统实现方案。利用Xilinx FPGA的Rocket I/O GTP对均衡后的HD-SDI高清视频信号进行采集,解码后在2片DDR2中进行乒乓缓存,利用CYCPRESS的EZ-USB FX3实现USB3.0的数据控制及采集。结果表明,该方案设计能够满足高清HD-SDI视频采集要求且具有成本低、适用性广等优点。

摘要：文章简要地介绍了高速ADC电路性能评估系统的整体设计方案、系统的硬件设计以及PC应用软件的设计方法。评估系统硬件包括ADC电路评估板、数据采集子板、PCI-E采集卡三块子板,并分别阐述了各子板的功能框图、结构组成和设计要点。系统应用软件采用图形化显示界面,经实际使用表明,该高速ADC电路评估系统结构灵活、性能稳定可靠,方便更换不同的ADC评估板来测试不同的ADC电路,既可用于分辨率为8-16bit、采样频率500MHz以内的高速ADC电路性能评估,也可以用于多达64通道、125M的高速数据采集。

摘要：为了满足国家对军工企业生产产品使用的芯片逐步、全面国产化的要求,国内各芯片厂商根据国外芯片特点研制了对应的国产芯片。为测试国产芯片是否达到国外芯片的参数指标,就需要设计一款芯片测试系统,以全面测试芯片各项参数。针对多路复用器芯片研究了一种测试系统,通过硬件和软件设计,并用国外芯片验证测试系统是否能够准确测试芯片参数。测试结果证明,测试系统设计合理可靠,可用于国产芯片的测试。

摘要：针对目前的国际形式和各方面对核心芯片的国产化需求,Hi3559AV100作为一款强大SoC芯片,具有卓越的图像处理能力,在各种视频传输和智能处理方面应用越来越广泛。然而国产PHY芯片的I/O电平推荐为2.5 V,无法直接和海思的RGMII接口对接,本文利用FPGA的BANK供电灵活性设计了Hi3559AV100+FPGA+GC88E1111的千兆以太网的设计方案,设计简单通用、灵活便利,能够满足高速数据传输的性能需求,为千兆以太网PHY芯片和其他MAC对接时接口电平不匹配问题提供了一种新的解决方案。

摘要：目前国内的ADC测试系统只针对某一单款或几款ADC芯片进行设计,缺少通用的ADC测试平台。因此,提出了一种基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台,包含ADC可调电源、数据采集电路及上位机3部分,可以实现对不同电压、不同接口的ADC进行测试。对比芯片厂家的datasheet文件,最终验证了本测试平台对于高速高精度ADC动态性能参数测试的可行性。

摘要：为提高计算机控制平台的抗电磁干扰(EMI)能力,改善整装系统的电磁环境,综合考虑设计开发中需要兼顾的电磁干扰原理、PCB、机箱结构等多种设计和环境因素,通过优化电源输入连接器的滤波电路,使机箱各接缝处保持良好接地以形成屏蔽腔体结构,解决了计算机系统CE102和RE102指标超限问题。经测试验证,整改后指标参数满足计算机EMI技术要求。整改措施简单可靠、适用性广,可推广用于多数电子设备系统的设计优化。

摘要：辐射发射(RE)的设计和远场测试整改复杂、成本高,为了解决中小规模公司缺乏低成本、简单的近场摸底测试系统的问题,设计验证了一种基于数字示波器的近场辐射发射测试系统,可用于获取远场RE102测试的频谱走向和趋势,使产品的EMI认证成本减少1/3,试验周期缩短1/5。为远场测试整改难度大、成本高的问题提供了一种解决方案。

摘要：针对国产ADC芯片设计了一种基于FPGA的ADC测试系统。通过对ADC芯片原理分析,再进行详细的硬件设计、FPGA软件和上位机编码调试,最后选用高精度仪器进行软硬件联调,并通过测试国外ADC芯片相关动静态参数是否达标来验证该测试系统是否合格。经过常温、高低温测试,测试结果满足国外芯片各项指标,证明测试系统设计合理、性能可靠,可用于国产芯片的测试。