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处理器电路的隔离测试方法研究: 收藏
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引用; 《计算机工程与应用》2011年第32期47卷 78-81页; 作者：路锋冯辅周闫存金装甲兵工程学院机械工程系北京100072 装甲兵工程学院装甲兵装备技术研究所北京100072; 含处理器(CPU)电路的测试和故障诊断一直是测试领域的一个难点。在研究过程中,提出并设计了一种电气隔离测试方法。该方法通过对CPU电路基本属性分析,采用对CPU复位脚进行操作使其一直处于某种特定状态,并设计一套外围电路对其进行数据...; 含处理器(CPU)电路的测试和故障诊断一直是测试领域的一个难点。在研究过程中,提出并设计了一种电气隔离测试方法。该方法通过对CPU电路基本属性分析,采用对CPU复位脚进行操作使其一直处于某种特定状态,并设计一套外围电路对其进行数据收发,从而实现将CPU从电路中"隔离"出来进行测试。实验结果表明,该方法具有其独特的优势。; 来源：详细信息评论

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