摘要：散射式扫描近场光学显微镜(s-SNOM)是现代光学技术的重要分支。s-SNOM突破了衍射极限,在红外和太赫兹波段实现了纳米尺度成像。目前市面上商用的s-SNOM大多适合在常温常压环境下使用。而很多具有新奇物性的材料需要低温的测试环境。本文作者设计并搭建了一套采用液氦杜瓦维持低温环境的超高真空近场光学显微镜。该系统基于原子力显微镜(AFM),可以同时获得样品的形貌和近场光学成像。自制的压电驱动电机用于探针、样品和抛物面镜的位移控制。作者用标准样品TGQ1评估了s-SNOM的性能,并对NdNiO_(3)薄膜的金属绝缘体相变(MIT)进行红外近场成像。测量结果展现了该系统在低温下的优异性能。低温s-SNOM技术能够为NdNiO_(3)等关联氧化物薄膜相变过程提供介观尺度的丰富信息。

摘要：针对传统测量技术对入射光入射方向敏感的缺点,提出了一种基于积分球的高功率激光多参数测量的分光技术。采用蒙特卡罗法对衰减率、出射光时间波形特性、入射光时间波形恢复这三个方面进行了数值分析和仿真,验证了积分球作为激光测量系统中的分光元件的可行性。利用积分球对纳秒激光的能量和时间波形进行测量,实验结果与理论分析相符。实验与仿真均表明在激光参数测量中采用该分光技术,通过测量出射光各项参数可以恢复入射光的光谱参数、能量参数、时间参数,克服传统技术中入射光的入射方向对于出射光的各项参数有较大影响的问题。该技术方案占用空间小、易于集成,可用于多路高功率激光参数测量系统的模块化设计。

摘要：本文通过分析气体透过率标准装置的设计要求，并对当前的各种测试方法进行综合对比，证明研制气体透过率标准装置应采用压差法作为首选测试方法。文中还对所研制的气体透过率标准装置在技术方面获得的突破以及实际性能测评进行了介绍，同时通过大量实测数据证明所研制装置的稳定可靠，可满足当前对于标准膜片进行准确赋值、标定溯源的应用需要。