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检索条件"作者=韩宝妮"

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宇航用微波芯片电容器电极镀层可靠性评价方法研究: 收藏
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引用; 《电子元件与材料》2018年第2期37卷 85-91页; 作者：韩宝妮文平董作典唐旭宋燕西安空间无线电技术研究所陕西西安710100; 微波芯片电容器作为一种新型的电容器,已被广泛应用于宇航,而国军标和行业标准中目前并无适用的评价方法。针对宇航用芯片电容器的应用方式和失效模式,设计了一套宇航用微波芯片电容器镀层可靠性的评价方法,用以评价其可靠性是否满足宇...; 微波芯片电容器作为一种新型的电容器,已被广泛应用于宇航,而国军标和行业标准中目前并无适用的评价方法。针对宇航用芯片电容器的应用方式和失效模式,设计了一套宇航用微波芯片电容器镀层可靠性的评价方法,用以评价其可靠性是否满足宇航应用需求。以国产芯片电容器为例对该评价方法进行验证。结果表明,该评价方法可有效评价和验证芯片电容器电极镀层的可靠性。; 来源：详细信息评论

电磁脉冲对MMIC电路中MIM电容的损伤分析: 收藏
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引用; 《电子产品可靠性与环境试验》2016年第3期34卷 13-18页; 作者：董作典宋燕史广芹韩宝妮唐旭何婷西安空间无线电技术研究所陕西西安710100; 电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设...; 电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设计试验使故障复现,验证了分析结果的正确性,从而为今后MMIC的老炼试验设计提供了指导。; 来源：详细信息评论

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