摘要：分析当前小学数学问题情境设计中存在的问题,阐述数学教师在设计问题情境时应当遵循的原则,以苏教版小学数学教材为例,提出在小学数学课堂中设计问题情境的策略,包括激发学生对数学知识的探究动力,根据学生的学习能力设计分层式问题情境,将生活元素融入问题情境中、提高学生的知识运用能力,引导学生挖掘新旧知识的内在联系、提高课堂教学的有效性,深度挖掘教材、根据教材内容来创设问题情境,培养学生提出问题的能力等,以发展学生的数学学科核心素养。

摘要：基于超巨磁阻 (CMR)材料在金属 绝缘体 (M I)转变点附近的巨大电阻变化 ,设计并测试了一种新型超巨磁阻测辐射热仪 (CMRbolometer) .用外延法生长的La0 .67Ca0 .3 3 MnO3薄膜作为测辐射热仪的辐射敏感元件 ,测量了该器件对黑体和He Ne激光器的光学响应 .所测的信号、噪声都随调制频率的上升而下降 ,但对于He Ne激光源 ,它的信噪比却没有明显的改变 .测量了薄膜铁磁金属态和顺磁绝缘态的信号 温度关系 ,最强的信号出现在靠近M I转变点 (居里点 )附近的铁磁态范围 .由于薄膜的居里点温度TC 随制备条件的不同 ,可从 70K变化到 35 0K ,所以该器件的最大特点是能在室温下工作 .从这个角度看 ,它可弥补高温超导测辐射热仪只能工作于液氮温区的缺点 .初步测量显示 ,该器件的探测率接近 10 7cmHz1/ 2 W-1,热响应时间约为 2 0ms.与高温超导测辐射热仪相比 ,超巨磁阻测辐射热仪的时间常量偏大 ,探测率偏低 .然而 。

摘要：高密度等离子体(High Density Plasma,HDP)淀积工艺具有卓越的沟槽填充性能,广泛应用于深亚微米及更先进的集成电路制造的关键工艺环节.由于其淀积与溅射相结合的工艺特点,HDP中颗粒水平直接影响器件量产的良率与可靠性,是HDP工艺中的最大问题.针对集成电路量产工艺中频繁出现的HDP颗粒问题,通过分析HDP淀积颗粒成分,发现其中含有非反应气体成分氟(F)和铝(Al).利用等离子体中的氧离子修复工艺设备的腔室穹顶,降低由于预淀积薄膜黏附不足而造成剥离性颗粒;研发出氧气(O_2)钝化工艺,应用于硅片淀积间隙的腔室原位清洗工艺;通过实验设计,分析和优化O_2钝化的具体工艺条件.研究表明,将优化后的带有O_2钝化的原位清洗工艺方案应用于集成电路实际量产制造,HDP工艺的颗粒水平整体降低50%.