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探测角度对笔束X射线荧光CT成像质量的影响
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《激光与光电子学进展》2020年 第16期57卷 284-290页
作者:马致臻 蒋上海 罗彬彬 石胜辉 邹雪 汤斌 吴德操 赵明富重庆理工大学光纤传感与光电检测重庆市重点实验室重庆400054 重庆理工大学智能光纤感知技术重庆市高校工程研究中心重庆400054 
常规X射线荧光计算机断层扫描(XFCT)成像中,探测角度与荧光收集效率密切相关。基于MCNP5设计了多探测角度下笔束XFCT成像系统,对质量浓度为1%的金纳米溶液柱形模体进行成像仿真,并采用滤波反投影(FBP)算法、联合代数重建(SART)算法和最...
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