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新西兰进口食品卫生标准体系研究与应用
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《质量安全与检验检测》2024年 第1期34卷 55-62页
作者:杨文友 王洪武 冯翔 冯英财 刘世林 张心怡 高平宇 黄盼盼 蔡金生中华人民共和国两江海关重庆401336 中华人民共和国重庆海关 中华人民共和国重庆江北机场海关 中华人民共和国涪陵海关 中华人民共和国永川海关 
新西兰是全球最早制定进口卫生标准(IHSs)来监管和控制进口食品安全和生物安全的国家。本文研究了新西兰进口食品IHSs的管理体系、基本构成、核心内容和主要特征,在比较分析我国进口食品安全监管的基础上,创新性地提出了借鉴新西兰进口...
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武陵山区(重庆)高山蔬菜出口安全发展研究
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《长江蔬菜》2014年 第14期 72-75页
作者:杨文友 陶玉翔 高平宇 张玉萍 周文婷重庆涪陵出入境检验检疫局408000 
系统研究分析了武陵山区(重庆)特色农产品高山蔬菜出口特点及存在的问题,通过比较研究显示,武陵山区蔬菜优势突出,提出推广武隆高山蔬菜出口经验、开展特色农产品安全控制技术攻关、建立种植基地污染数据库、改善土壤安全状况、做好市...
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双标倒垂的设计与施工
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《中国农村水利水电》2010年 第2期 93-94页
作者:高平 李佳华南理工大学土木与交通学院广州510640 广东省水利电力勘测设计研究院广州510170 
双标倒垂是将双金属管标与倒垂线相结合的一种新型变形监测系统,近几年来,双标倒垂在国内水利水电工程变形监测系统中已有过不少的成功应用实例。详细介绍了广东省惠州抽水蓄能电站工程安全监测系统中双标倒垂的设计和施工方案,并对在...
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三种改进结构型BiCMOS逻辑单元的研究
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《固体电子学研究与进展》2004年 第4期24卷 486-492页
作者:成立 李春明 高平 王振 史宜巧江苏大学电气与信息工程学院江苏镇江212013 南通工学院计算机科学系江苏南通226001 
为满足低压、高速、低耗数字系统的应用需求 ,通过采用改进电路结构和优化器件参数的方法 ,设计了三种改进结构型BiCMOS逻辑单元电路。实验结果表明 ,所设计电路不但具有确定的逻辑功能 ,而且获得了高速、低压、低耗和接近于全摆幅的特...
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VLSI电路可测性设计技术及其应用综述
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《半导体技术》2004年 第5期29卷 20-24,34页
作者:成立 王振 高平 祝俊江苏大学电气与信息工程学院江苏镇江212013 
综述了超大规模集成电路的几种主要的可测试性设计技术,如扫描路径法、内建自测试法和边界扫描法等,并分析比较了这几种设计技术各自的特点及其应用方法和策略。
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用0.8μm工艺技术设计的65-kb BiCMOS SRAM
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《半导体技术》2003年 第6期28卷 44-48页
作者:董素玲 成立 王振 高平江苏大学电气与信息工程学院江苏镇江212013 
设计了一种65-kb BiCMOS静态随机存取存储器(SRAM)的存储单元及其外围电路,提出了采用先进的0.8mm BiCMOS工艺,制作所设计SRAM的一些技术要点。实验结果表明,所设计的BiCMOSSRAM,其电源电压可低于3V,它既保留了CMOS SRAM低功耗、高集成...
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用于通信ASIC的高速BiCMOS逻辑电路
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《电子元件与材料》2003年 第5期22卷 7-10,13页
作者:马辰光 成立 高平 王振东南大学自动化系江苏南京210096 江苏大学电气与信息学院江苏镇江212013 
提出了几种通信用BiCMOS逻辑门电路的实现方案.这些逻辑门均可在低电源电压(2.0~3.0 V)下,采用BiCMOS工艺和深亚微米技术精心设计及制作,并经过比较对其作出评价.分析和实验结果表明,所设计的电路不但具有确定的逻辑功能,而且具备高速...
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IC产业链中的新技术应用与产业发展对策
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《半导体技术》2004年 第6期29卷 57-63页
作者:成立 李春明 王振 高平江苏大学电气与信息工程学院江苏镇江212013 南通工学院计算机科学系江苏南通226001 
论述了IC产业链中包括的主要技术,例如芯片设计、芯片制造、芯片封装新技术和支撑条件等,并讨论了这些新技术及其产品的研发、应用和发展策略。
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BiCMOS技术在通信领域的研究与进展
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《电讯技术》2004年 第2期44卷 7-13页
作者:成立 高平 王振 史宜巧江苏大学电气与信息工程学院江苏镇江212013 
为了促进我国通信用高性能电子电路和各种通信ASIC新产品的设计、研制和应用,本文首先论述了性能卓越的BiCMOS技术的先进性,然后讨论了国外流行的两种BiCMOS工艺制作技术及其特殊考虑,以及在通信工程中的应用电路,最后分析了BiCMOS技术...
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案
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《半导体技术》2003年 第9期28卷 29-32页
作者:高平 成立 王振 祝俊 史宜巧江苏大学电气信息工程学院江苏镇江212013 
分析了数字VLSI电路的传统测试手段及其存在问题,通过对比的方法,讨论了内建自测试(BIST)技术及其优点,简介了多芯片组件(MCM)内建自测试的目标、设计和测试方案。
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