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基于换流–短路双回路解耦的SiC MOSFET功率器件抗短路封装构型设计
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《中国电机工程学报》2023年 第7期43卷 2781-2789页
作者:罗皓泽 高洪艺 朱安康 金昱廷 李武华 何湘宁浙江大学电气工程学院浙江省杭州市310027 
由于栅极氧化层可靠性差、短路电流密度大以及短路结温上升速率高,SiC MOSFET功率器件的短路耐受能力较弱,制约着其在电能变换领域的广泛应用。在此背景下,为了提升SiC MOSFET功率器件的短路耐受能力,文中基于换流–短路双回路解耦的思...
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