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基于正余弦耦合的三轴速率平台控制结构优化
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《飞控与探测》2023年 第6期6卷 31-37页
作者:高荣荣 赵军虎 彭荻 张金云北京航天控制仪器研究所北京100854 
针对三轴速率平台进行三自由度的动态摇摆时出现的平台台体线性漂移问题,提出了一种基于正余弦耦合的三轴速率平台稳定回路控制结构优化方法。当三轴平台进行三自由度摇摆运动时,由于框架间角运动激励的物理耦合和角运动解耦激励的数学...
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Zara Domain不良的研究与改善
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《液晶与显示》2019年 第3期34卷 267-272页
作者:左爱翠 高荣荣 陈维诚 滕玲 岳麓 汤列金合肥京东方光电科技有限公司Cell分厂安徽合肥230012 
Zara Domain是TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)行业TN型产品中常见的不良,严重影响着产品的良率。本文通过对101.3mm(3.97in)TN产品的大量实验,系统分析和研究了Zara Domain问题。研究结果表明:优化产品设计、工...
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摩擦Mura机理和设计改善方法
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《液晶与显示》2019年 第6期34卷 570-575页
作者:高荣荣 刘俊豪 周保全 汪剑成 张周生 左爱翠 陈维诚合肥京东方光电科技有限公司Cell分厂安徽合肥230012 
摩擦Mura是ADS型TFT-LCD中一种常见不良,本文主要对摩擦过程中固定位置的Mura进行理论研究和实验测试。摩擦Mura产生原因是TFT基板上的源极线附近的摩擦弱区漏光。从产品设计方面找出影响这种固定位置的摩擦Mura的主要因子为ITO材质、...
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TFT-LCD摩擦工艺ESD研究与改善
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《液晶与显示》2020年 第1期35卷 48-52页
作者:高荣荣 周保全 江桥 滕玲 陈维诚 左爱翠 郭红光 韩基挏合肥京东方光电科技有限公司Cell分厂 
摩擦工艺ESD(Electrostatic Discharge)是TFT-LCD制程中较为常见的一种不良,以317.5 mm(12.5 in)产品为例,摩擦工艺过程中ESD发生率20%,对产品良率影响较大。文章结合实际生产对摩擦工艺ESD的原因进行理论分析与实验验证,得出摩擦工艺发...
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TN型产品Zara Domain理论研究与分析改善
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《液晶与显示》2016年 第3期31卷 242-248页
作者:高荣荣 陈杰 刘俊豪 郭红光 张周生 左爱翠 桑胜光合肥京东方光电科技有限公司Cell分厂安徽合肥230012 
Zara Domain是高PPI TN型TFT-LCD制成中较为常见的一种不良,为了提高产品品质,急需改善Zara Domain。以3.97in TN产品(PPI 235)为例,Zara Domain发生率30%,对产品良率影响较大,文章结合生产情况对Zara Domain发生的原因进行理论分析和...
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弹道导弹惯性测量系统精度指标自适应分配方法
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《导航与控制》2021年 第2期20卷 24-33页
作者:魏宗康 唐文浩 高荣荣 周姣北京航天控制仪器研究所北京100039 
对弹道导弹惯性测量系统进行误差分析和精度指标分配是保证导航精度和武器作战性能的一项重要任务。针对目前惯性导航系统误差分析不全面、精度评估准则单一以及精度指标分配方法不准确的不足,提出了一种弹道导弹惯性测量系统精度指标...
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CAN总线在半导体设备中的应用及抗干扰优化设计
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《电子工业专用设备》2017年 第5期46卷 52-55页
作者:刘玉倩 张立军 高荣荣中国电子科技集团公司第四十五研究所北京101601 
针对半导体设备控制系统的实时性、模块化、可靠性的需求,将CAN总线应用于半导体设备控制系统中,达到提高系统实时响应能力、抗干扰、可靠性等目的。
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基于响应面方法的支架结构模型修正研究
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《噪声与振动控制》2014年 第3期34卷 139-143页
作者:邱飞力 张立民 张卫华 高荣荣西南交通大学牵引动力国家重点实验室成都610031 
为减小有限元建模中不可避免的误差,以支架结构模型为研究对象,选取结构不同部件的三个弹性模量和三个密度参数作为设计变量。根据中心复合设计,建立试验样本空间,利用样本参数的显著性分析结果筛选修正参数。结合线性回归方法,建立支...
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