摘要：通过对上海EBIT装置离子注入引出系统的分析,采用FPGA为控制逻辑单元来设计EBIT装置的动态控制电路,实现了对EBIT装置中离子“注入-引出-电离”的动态控制。上海EBIT动态控制系统包括了基于FPGA的控制电路的设计和用户控制界面的设计。采用FPGA来设计EBIT动态控制系统,提高系统的控制速度和精度。

摘要：介绍高频三角波电压发生器的工作原理、高频机的方框图和推动电路的设计以及三角波电压技术指标的测量。并简单介绍加速电极结构。

摘要：上海光源(Shanghai Synchrotron Radiation Facility,SSRF)光束线站安全联锁系统的目的是在光束线站运行期间,一旦出现紧急情况,安全联锁系统会及时关闭活动光子挡光器或通知储存环控制系统剔除电子束流,以保障实验人员的人身安全及光束线站的设备安全。在SSRF第一条Canted光束线安全联锁系统设计过程中,通过分析Canted光束线与常规插入件光束线在布局与安全联锁要求方面的区别,实现了Canted前端的设备联锁控制要求,并提出了利用束线仲裁信号实现两条光束线和谐相处的设计方法,最终完成了两条光束线的安全联锁系统的安装调试及其验收。Canted光束线安全联锁系统自2013年7月投入试运行以来运行正常,为光束线和实验站的正常调试提供了保障。

摘要：介绍了一种新的荧光靶光束位置探测器的测量方法,利用光斑的非实验用光区,通过对相应荧光靶图像的特点进行分析,设计合适的光斑图像处理算法,计算图像中光斑的位置变化情况,实现单色光位置变化的实时监测。从而能在不影响实验站用光的情况下对光束位置变化进行微米数量级的监测,同时也可以为光束线的调束工作提供实时而准确的光斑信息反馈。经模拟测试,该方法可以准确计算出光斑的位置变化情况,能为实验人员提供实时而精确的光斑位置状态参数。

摘要：CdZnTe(CZT)探测器是近年来迅速发展的新型半导体探测器,具有体积小、分辨率高、可在室温下工作等优点。论文通过分析探测器的噪声组成,并经过实验数据分析,证明了影响探测器性能的主要因素是探测器晶体内电荷收集不完全,并为探测仪器设计时的成形时间选择提供了参考。

摘要：为提高同步辐射丝扫描探测器的测量分辨率,设计了连续采样测量系统。该系统采用了扫描丝匀速运动、电子学连续采样的新工作方式,可获得更好的分辨率,提高采样率与降低扫描速度可提高光束中心位置的测量分辨率,降低扫描速度可提高光斑大小的测量分辨率,并可根据实验结果方便地确定特定分辨率要求下的采样率和扫描速度等参数的取值,对丝扫描的设计和使用提供了极大的便利。

摘要：为了提高同步辐射丝扫描探测器的测量分辨率与缩短数据处理时间,设计了丝扫描快速信号处理测量系统。该系统采用了电子学高速连续采样与平均降采样相结合的方法,自动确定拟合区间,调整关键点拟合权重,可有效提高信噪比,滤除光斑边缘毛刺噪声,降低拟合误差,提高测量分辨率与缩短测量用时;其光束位置测量分辨率可达48.3μm,光斑大小测量分辨率可达38.5μm,数据处理时间约150 ms。

摘要：为了提高同步辐射丝扫描探测器的测量分辨率与缩短数据处理时间,设计了光信号自动拾取丝扫描测量系统.该系统采用多进程优先级机制管理采样过程,对信号进行降噪处理后使用Allen函数对信号幅度变化特征进行放大,长短时平均法与赤池准则结合拾取光信号,自动确定拟合区间,同时采用能量变化法对高斯拟合参数初值进行估测.经实验验证,该测量系统拾取光信号位置准确,可有效提高丝扫描探测器的测量分辨率,缩短数据处理用时.

摘要：上海光源XBPM自动量程I/V转换器主要用于光束线的刀片式探测器和丝扫描探测器的信号读出,所需测量的电流动态范围大,从pA到mA量级的跨度;工作环境中有较多驱动电机的信号干扰,需要进行抗干扰和低噪声设计,以提高设备的信噪比,保证测量数据的精度和稳定度。论文给出了电路和相关程序设计,以及自动量程I/V转换器的测试结果。

摘要：丝扫描探测器可用于同步辐射光束线站光束位置和光斑大小的测量,论文简述了该探测器的结构和设计中的注意事项,同时给出了不同的数据处理方法对探测器测量结果的影响效果;可指导设计不同要求的丝扫描探测器,其测量精度最高能达到10μm。论文还介绍了丝扫描探测器的拓展应用,以及此类探测器在上海光源光束线上的使用情况,所设计的丝扫描探测器全部满足了各条光束线站的测量要求;并进一步提出了开展此类探测器研究的内容及其作用。