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DFM,设计限制使双重图形成为可能
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《集成电路应用》2008年 第1期25卷 34-34页
作者:aaron hand 
Texas Instruments(TI)设计数据集成部主管Mark Mason指出:尽管157纳米乃至126纳米光学波长曾经一度被视为未来的光刻技术解决方案,极紫外线光刻技术(EUV)也被推测可能早于预期崭露头角,但是事与愿违,目前来看,用于生产下几代...
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用多光子光刻制作65nm聚合物结构
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《集成电路应用》2007年 第8期24卷 25-25页
作者:aaron handSemiconductor International 
常规光刻方法通过利用电路设计每一层的掩膜版来进行曝光和显影.从而形成图案。佐治亚理工学院(GeorgiaInstitute of Technology)的研究人员正在研究一种多光子光刻技术,不再需要掩膜版就可以制作出65nm的三维聚合物线条结构。
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应用材料的光刻方案:图形vs.印制
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《集成电路应用》2007年 第6期24卷 32-32页
作者:aaron handSemiconductor International 
虽然应用材料公司(Applied Materials)并不以光刻而闻名.但它还是想提醒大家:光刻不是只有印制(printing)。正如应用材料公司的薄膜事业群总经理Farhad Moghadam在SPIE的先进光刻会议的新闻发布午宴上所概述的那样,光刻领域已经...
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