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边界扫描层插入工具确保准确的信号测试: 收藏
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引用; 《今日电子》2005年第4期 42-43页; 作者：darryl perks杰尔系统ASIC设计工程师; 现代集成电路安装了IEEE 1149.1边界扫描电路,以增强信号测试.然而,芯片的速度和尺寸不断增加,导致我们在实施带有可预测计时的功能时遇到了更多问题.同时,我们在芯片边界需要更多电路来管理不同电源.本文将讨论位于英国Ascot的杰尔系统...; 现代集成电路安装了IEEE 1149.1边界扫描电路,以增强信号测试.然而,芯片的速度和尺寸不断增加,导致我们在实施带有可预测计时的功能时遇到了更多问题.同时,我们在芯片边界需要更多电路来管理不同电源.本文将讨论位于英国Ascot的杰尔系统ASIC设计中心目前采用的解决这些问题的方法.; 来源：详细信息评论

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