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64层锥束CT扫描的优化系统(英文): 收藏
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引用; 《CT理论与应用研究（中英文）》2005年第4期14卷 59-67页; 作者：谢强 eugene williams Charlie Shaughnessy 唐向阳 Brian Grekowicz Roy Nilsen Sandeep Dutta Robert SenzigGE医疗系统总部CT应用科学实验室美国WI 53201 GE HealthcareMilwaukeeWI53201; 近年来X射线断层成像(CT)技术获得了突飞猛进的发展,自1998年推出4层螺旋CT后,CT扫描设备在容积覆盖,空间分辨率,扫描速度,切片数方面取得了长足进展。这不仅给医学应用带来了深远的影响,同时也给CT系统设计提出了巨大的挑战。容积CT(V...; 近年来X射线断层成像(CT)技术获得了突飞猛进的发展,自1998年推出4层螺旋CT后,CT扫描设备在容积覆盖,空间分辨率,扫描速度,切片数方面取得了长足进展。这不仅给医学应用带来了深远的影响,同时也给CT系统设计提出了巨大的挑战。容积CT(VCT)的设计过程引入了各种策略来战胜其复杂性。这些方法学包括:理论分析,系统性能预测的图像分析工具,各种基于专家背对背评价的参数优化。本文论述了64层CT系统设计中的一些考虑因素及优化过程。这些设计过程保证了锥束CT的优化性能。首批客户的应用反馈显示了我们设计实践的有效率性。; 来源：详细信息评论

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