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检索条件"作者=Goh Swee Heng"
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嵌入式存储器测试
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《集成电路应用》2008年 第9期25卷 46-48页
作者：goh swee heng Toh Ser Chye Wong Kok SunStaff Engineer Test R&D Test Development Product Engineering STATSChipPAC Ltd 
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,...
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