摘要：1介绍多工位测试是大多数模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.随着并行测试工位数的提高,模拟和混合信号器件测试系统的设计人员需要不断的努力克服以前的架构的不足，架构的缺点会导致并行测试效率（PTE：Parallel Test Efficiency）的降低。

摘要：1介绍多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来，模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足，使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展，寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进，以实现更高的并行测试效率。

摘要：测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样，芯片的测试要求也越来越复杂，如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同，测试生产线成本的管理和策略也不一样。有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率。然而，批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好。

摘要：多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量生产测试的基石.随着测试工位数的增加,模拟和混合信号测试系统设计者需要努力克服历来限制并行测试效率(PTE:Parallel Test Efficiency)的架构上的不足。在第一部分中,我们介绍了并行测试效率PTE及其随工位数增加对测试成本的影响,突出了一些效率高的多工位测试系统的重要特性。第二部分我们将介绍pattern-based测试和有关的SmartPin硬件和软件。

摘要：多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:ParallelTestEfficiency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率。