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检索条件"作者=James Cattrey"
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用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
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《电子设计应用》2006年 第4期 9-9页
作者：james cattrey Conor Power美国模拟器件公司(简称ADI)精密转换器部 ADI公司仪器仪表积汽车转换器部 
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.
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用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
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《电子设计技术 EDN CHINA》2005年 第10期12卷 31-31页
作者：james cattrey Conor Power美国模拟器件公司（简称ADI）精密转换器部产品市场经理 ADI公司仪器仪表和汽车转换器部产品市场经理 
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时，并且由于各个应用之间即使有很小的差异，也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
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