• 全部搜索
  • 期刊论文
  • 图书
  • 学位论文
  • 学位论文
  • 标准
  • 纸本馆藏
  • 外文资源发现
  • 产品样本
  • 电子图书
  • 原文传递

限定检索结果

检索条件"作者=Jeff Boyer"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
视图：
排序：
测试小型存储器阵列的新方法
收藏
分享
引用
《电子设计应用》2004年 第10期 73-74页
作者：jeff boyer Ron PressIntel Austin分公司 MentorGraphics公司 
随着半导体工艺的不断进步,那些原本存在于芯片中的大型存储器会转变为数十数百个小型存储器,并分布在芯片中各个角落。宏测试是用来测试这些日益增长的小型嵌入式模块的静态故障和实速故障的有效方法。
来源：详细信息评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页<< <1> >>
聚类工具 回到顶部