限定检索结果

检索条件"作者=John Baliga"
3 条 记 录,以下是1-10 订阅
视图:
排序:
芯片-封装协同设计进一步发展
收藏 引用
《集成电路应用》2006年 第10期23卷 48-48页
作者:john baligaSemiconductor International 
倡导和实现芯片封装协同设计的努力已经持续很多年了。随着90nm工艺技术逐渐进入量产阶段,芯片与封装的同步设计才开始真正变成现实。这种转变的一个迹象是处于该领域的两家公司,Optimal和Rio Design Automation最近宣布了一项联合开...
来源:详细信息评论
FSA探索SiP的设计要求
收藏 引用
《集成电路应用》2006年 第11期23卷 44-44页
作者:john baligaemiconductor International 
在今年的SEMICON West中,除了新兴技术、制造生产率和效率,以及器件尺寸缩小的挑战这几个主题外.测试和组装/封装已经成为第四个TechXPOT演讲内容,这表明该领域已经同其他三个领域一样引起了各界的注意。作为该领域的一部分,IC设...
来源:详细信息评论
应用于RF MEMS的可集成压力监控技术
收藏 引用
《集成电路应用》2006年 第5期23卷 26-26页
作者:john baligaSemiconductor International 
许多MEMS器件,像加速度计、机械共振器件等,都需要在真空环境下才能实现设计功能。然而检验封装腔体是否达到了所要求的真空程度一直一来都是个棘手的问题。密歇根大学Khalil Najafi教授研究小组的研究人员最近开发出一种用微机械制...
来源:详细信息评论
聚类工具 回到顶部