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自动测试设备的成本及方案分析
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《半导体技术》2001年 第9期26卷 69-72页
作者：mark underwood Jay ScolioMaxim集成产品公司 
电子设备的测试方法多种多样，从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备（ＡＴＥ）。本文重点讨论一种具有较高性价比的中等规模测试方案。
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