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检索条件"作者=Michael Santarini"
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45nm IC设计面临的挑战
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《电子设计技术 EDN CHINA》2007年 第12期14卷 54-56,58,60,62,64页
作者:michael santariniEDN 
如果你拥有针对65nm甚至90nm节点的工具,转换到45nm节点就不需要更换工具。但设计者转到这一节点时必须采用一些先进的设计技术,并了解一些新的设计规则,代工厂用这些规则来确保SoC设计能达到可接受的成品率。
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FPGA是ASIC设计者的一道普通难题?
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《电子设计技术 EDN CHINA》2007年 第10期14卷 76-76,78,80,82,84,86页
作者:michael santariniEDN 
随着开发ASIC与SoC的掩膜费用、复杂度和工具成本的上升,今天很多设计小组正在选用FPGA实现自己的产品设计。但是,在设计者跨出这一步之前,应从好、坏两个方面着手考虑多种因素。
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消费IC:可靠性设计
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《电子设计技术 EDN CHINA》2008年 第6期15卷 52-54,56,58页
作者:michael santariniEDN 
最新的电子产品只有在能保证较长的使用寿命时,消费者才会接受。IC厂商必须解决好IC的可靠性问题,才能使其在可靠、耐用的产品中得到应用。
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挑战功耗:低功耗ASIC设计技术
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《电子设计技术 EDN CHINA》2007年 第8期14卷 68-68,70,72,74,76,77页
作者:michael santariniEDN 
即使你正在设计的ASIC或SoC并非面向低功耗应用,但你仍需要熟悉低功耗设计技术,因为最新一代硅工艺技术本身就易于泄漏功耗。
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热完整性:低功耗IC数字设计必备的技术
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《电子设计技术 EDN CHINA》2005年 第12期12卷 54-54,56,58,66页
作者:michael santariniEDN高级编辑 
过去三年以来,芯片设计师对IC功率管理的关注已经从原先的第三位跃到了第一位,特别是对那些便携系统应用中ASIC和SoC的设计师而言,情况更是如此.
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IP评估四要素:比较、考虑、收集、计算
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《电子设计技术 EDN CHINA》2007年 第5期14卷 70-70,72,74,76,78页
作者:michael santariniEDN 
寻找高质量IP是IC设计中最头痛的事。所幸,现在有一些资源、提示和技巧能帮助设计者做出最佳选择。此时应考虑四大要素(4C):比较多内核、考虑供应商的规模、收集参考资料,并且计算风险。
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协同设计技术
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《电子设计技术 EDN CHINA》2006年 第5期13卷 64-64,66,68,70,72页
作者:michael santariniEDN高级编辑 
一般来说,IC设计与封装设计任务由不同的小组承担。但是,由于现存越来越多的各类因素影响,如成本、产品上市时间、日益增加的封装复杂性——尤其是SIP(系统封装)、多芯片模块以及堆叠芯片等日益普及,IC设计师与封装设计师不得不...
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ASIC原型构建:是做还是买?
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《电子设计技术 EDN CHINA》2006年 第2期13卷 58-58,60,62,64,66,68页
作者:michael santariniEDN 
随着数字集成电路(IC)的设计变得更加复杂,验证其功能的工作也越来越复杂了。在能被设计的门电路数量和能在合理时间内被验证的门电路数量之间一直存在差距,而这些年来,EDA厂商们在缩小这种差距方面几乎无所作为。
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专题讨论:ESL被系统设计师完全采纳尚需时日
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《电子设计技术 EDN CHINA》2006年 第4期13卷 136-136,138页
作者:michael santariniEDN高级编辑 
电子系统级(ESL)设计概念的提出已经有十多年的历史,但到目前为止,它的应用还不是很普及,因为它仍然面临着很多挑战——设计工具、IP核、设计方法学,以及设计人员观念的转变……但是随着IC设计向90纳米、65纳米、甚至45纳米的不断发展,...
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90nm时代值得认真关注的结构化ASIC
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《电子设计技术 EDN CHINA》2005年 第10期12卷 64-64,66,68页
作者:michael santariniEDN高级编辑 
继四年前ASIC厂商为了抗衡FPGA厂商蚕食市场份额而推出第一款结构化ASIC器件后,结构化ASIC市场已经成为逻辑设计的一种普遍选择.
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