摘要：嵌入式系统设计人员通过各种处理元件来完成特定应朋程序开发任务。这些没备从通用微控制器覆盖到处于摩尔定律最前沿的多核处理器。每种技术部有其独特的优点和缺陷，往决定采用哪种无件作为嵌入式系统的核心之前必须对这些给予考虑。嵌入式系统中最常见的是以处理器为核心的终端，

摘要：插入式数据采集(DAQ)的标准已经发生了变化.在设计新的ni M系列DAQ设备时,ni不仅升级了工业标准化的DAQ设备的功能,而且还重新设计了整个架构.由于基于全新的ni-STC 2系统控制器芯片与ni-PGIA2放大器技术,从而使得该DAQ设备在测量精度、采样速率、I/O通道数方面增加了许多新的功能和特性.

摘要：理解软件定义PXI射频仪器与传统仪器相比在速度上的提升.WCDMA测量结果显示与传统仪器相比,固有并行化的LabVIEW测量算法在多核处理器上显著提高了执行速度.射频技术无处不在.作为消费者,我们很容易理解它对我们的影响,而对于射频测试工程师而言,它有着更为重大影响.无线设备的成本正在大幅度降低,使得我们可以更加容易地完成工作.然而,这却为我们设计下一代射频自动化测试系统提出了新的挑战.比以往都更为紧迫的任务是降低测试的成本.

摘要：美国国家仪器公司下属的Electronics Workbench Group近日发布了Multisim 10．0和Ultiboard 10．0——这是交互式SPICE仿真和电路分析软件的最新版本，专用于原理图捕获、交互式仿真、电路板设计和集成测试。这个平台将虚拟仪器技术的灵活性扩展到了电子设计者的工作台上，弥补了测试与设计功能之间的缺口。通过将ni Multisim 10．0电路仿真软件和LabVIEW测量软件相集成，需要设计制作自定义印制电路板（PCB）的工程师能够非常方便地比较仿真和真实数据，规避了设计上的反复，减少原型错误并缩短产品上市时间。

摘要：针对集成电路单元器体数超过百万,功能越来越复杂的数字电路的测量,1980年后期计算机业界成立联合测试工作组(JTAG)研讨一种数字集成电路边界扫描技术,简化传统测试所需的大量激励和输出引脚,只规定4个边界扫描引脚:测试数据输入(TDI);测试时钟(TCK);测试模式选择(TMS);测试数据输出(TDO).四个边界扫描的寄存器和被测集成电路的重要边界扫描节点,预先布置在集成电路芯片内部,四个边界扫描引脚组成的测试进入端口(TAP)在集成电路则占有固定的位置.这种边界扫描技术在1990年获得认证成为IEEE1149.1标准,边界扫描和可测试性设计相结合的集成电路测试已普遍获得业界的认可.但是,集成电路的测试系统一直属于自动测试设备(ATE)供应商市场,即使测试测量仪器供应商亦难进入.

摘要：引言当前电子设计的趋势是复合功能化以及更广泛地使用模拟、数字混合技术.在设计、建模和测试诸如3G手机及机顶盒等混合了视频、音频及数据信号的系统时,需要紧密集成与基频采样频率、失真和触发特性相匹配的数字及模拟数据采集和发生硬件.模拟及数字仪器不再是具有完全相异的定时引擎和不匹配模拟性能的独立系统.另外,随着这些具有类似时钟的设备在全球范围内广泛地制造,产品必须在极宽的温度范围内具有稳定性和性能一致性,以便进行可靠的、高性能的功能测试.

摘要：1引言〈br〉 示波器的需求急速成长，同时新的研究和测试应用也需要更多、更快、更复杂的信号。这需要具有更多智能功能的测试设备，才能准确侦测特定的信号状况并避免空滞时间、在采集期间处理资料以缩短测试时间，或者是快速产生反馈信号以控制待测装置（DUT）。过去十年来，强大的PC软件和模块化I/O的紧密整合，不仅缩短了测试时间，同时也降低了整体测试成本。软件设计仪器属于全新的产品类别，能够把用户算法扩充至仪器本身，藉此把这个概念提升到新的境界。这样一来即可设计高度优化的测量系统，进一步实时分析每个样本，避免耗时的后续处理作业。最后不但能够缩短测试时间，还可以更快地探索科学与研究应用。