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汽车如何推动新的可测性设计技术: 收藏
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引用; 《中国集成电路》2014年第10期23卷 77-78页; 作者：ron pressMentor Graphics公司; 1背景介绍随着人们对安全关键应用设备,尤其是汽车IC（集成电路）,提出了新的需求,DFT（可测性设计）技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须...; 1背景介绍随着人们对安全关键应用设备,尤其是汽车IC（集成电路）,提出了新的需求,DFT（可测性设计）技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须满足非常高的质量和可靠性标准,所以芯片制造商也必须进行高水平的生产测试和系统内部测试。; 来源：详细信息评论

测试小型存储器阵列的新方法: 收藏
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引用; 《电子设计应用》2004年第10期 73-74页; 作者：Jeff Boyer ron pressIntel Austin分公司 MentorGraphics公司; 随着半导体工艺的不断进步,那些原本存在于芯片中的大型存储器会转变为数十数百个小型存储器,并分布在芯片中各个角落。宏测试是用来测试这些日益增长的小型嵌入式模块的静态故障和实速故障的有效方法。; 随着半导体工艺的不断进步,那些原本存在于芯片中的大型存储器会转变为数十数百个小型存储器,并分布在芯片中各个角落。宏测试是用来测试这些日益增长的小型嵌入式模块的静态故障和实速故障的有效方法。; 来源：详细信息评论

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