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检索条件"作者=Ron Waltman"
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ATE促进WiMAX射频测试与特征描述
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《电子设计技术 EDN CHINA》2010年 第2期17卷 68-68,70-72页
作者：ron waltman Peter HigginsADI公司 Teradyne公司 
为了恰当地测试WiMAX收发器件，射频半导体测试仪需要准确迅速地执行测试，并且帮助完成器件特征描述。
来源：详细信息评论
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