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检索条件"作者=Steve Pateras"
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基于FinFET的IC产品的设计和测试
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《中国集成电路》2016年 第8期25卷 37-37,80页
作者：Carey Robertson steve paterasMentor Graphics公司 
FinFET晶体管的兴起对IC物理设计和可测试性设计流程具有显著影响。引入FinFET意味着在IC设计流程中，CMOS晶体管必须建模为三维（3D）器件，
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