摘要：随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要。各种用于提高芯片可测试性的可测性设计方法被提出,其中逻辑内建自测试方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。文章首先对Logic BIST的基本原理结构进行介绍,然后对其在实践应用中的一些难点问题进行详细分析,最后给出针对一款高性能通用处理器实验的结果。

摘要：介绍了龙芯2号增强型处理器(以下简称龙芯2E)配套北桥的总体架构、模块互连以及各个模块的设计和优化工作。测试结果表明,优化使龙芯2E系统的FTP上传带宽提升了36.6%,系统的整体性能达到了In-tel Pentium4 1.4 GHz的水平并足以胜任各种格式流媒体的解码和播放。

摘要：随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明。