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一种基于ATE的SerDes物理层测试方法: 收藏
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引用; 《电子与封装》2020年第11期20卷 30-33页; 作者：张凯虹季伟伟朱江中科芯集成电路有限公司江苏无锡214035; 串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域。SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响。大多数厂商采用仪器仪表与评估板...; 串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域。SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响。大多数厂商采用仪器仪表与评估板来评估待测器件(DUT)的方式效率低下,只适用于产品评估阶段。基于自动测试设备(ATE)与可测性设计(DFT)相结合的方式,采用高速串行接口源同步测试技术、测试通路校准与补偿等技术,对SerDes产品的功能、发送和接收端参数进行全面的测试,实现高速接口的快速准确测试,并可适用于其他同类SerDes芯片测试。; 来源：详细信息评论

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