摘要：提出了一种可扩展的数据支撑系统结构,该系统为EDA物理设计工具开发提供数据支持·当设计工艺技术进入超深亚微米后,物理设计过程复杂性增加,大数据量、复杂结构的数据表示成为一个关键问题·需要提供一个有效的、可扩展的数据支撑环境,支持多层次、多迭代、结构化设计过程的集成·该数据支撑系统采用可扩展标记语言XML表示设计数据,完成设计过程大规模、多种类、多阶段数据表示和处理,提高数据系统的可扩展性·文中对该数据支撑系统结构进行了说明,结合实际集成需求,对数据表示、数据解析和数据转换等关键技术的处理也进行了详细说明·

摘要：为研究装配式抗震框架的延性节点行为，试验了4个试件．试件的设计体现延性节点行为的3种机理：拉-压屈服、摩擦滑移及非线弹性反应．扼要说明各试件的楼层剪力-层间位移角关系，某些试件的弯矩-转角关系及钢筋应力-应交关系，对试验结果和延性节点构造作了评价．

摘要：提出了一种使用带有嵌入式处理器的FPGA实现水声调制解调器控制系统的方法,根据声波通信的数据特点选择适合的通信总线搭建系统结构,设计出合理的软硬件协同工作流程和中断控制信号。通过在Xilinx VirtexIVFPGA的嵌入式MicroBlaze软处理器上实现并通过软硬件协同验证,表明所设计的控制系统能够准确控制整个数字信号处理过程,实时监控电路工作情况,性能稳定可靠。

摘要：该文采用双线形损伤粘结模型研究带切口FRP-混凝土三点受弯梁(3PBB)I型加载下的界面断裂性能。通过有限元参数分析,详细讨论了界面粘结强度、界面粘结能、混凝土抗拉强度、混凝土断裂能对3PBB受力性能的影响。数值模拟表明,FRP-混凝土界面有两种破坏形式,包括FRP-混凝土界面的损伤脱粘和界面混凝土的损伤脱粘破坏,与实验所观察到的现象一致。两种破坏形式尽管在宏观上均表现为界面脱粘,但破坏机制却不同。FRP-混凝土界面的损伤粘结模型与混凝土的拉伸塑性损伤模型相结合,不但再现了3PBB的宏观力学性能,数值分析得到的荷载-位移曲线接近实验结果,而且还能详细展示FRP-混凝土界面的损伤、断裂破坏过程以及损伤在FRP-混凝土界面和界面混凝土之间的转移,能够预测构件的承载力,有助于界面优化设计,这是单纯以能量判据预测裂纹发展的经典断裂力学方法所无法做到的。

摘要：最大功耗分析对于设计高可靠性的VLSI芯片是非常重要的 .由于电路功耗强依赖于其输入模式 ,对有大量管脚的CMOS组合或时序电路 ,不能采用穷举搜索 .本文用遗传算法来选择具有高功耗的输入及内部状态模型 ,在逻辑仿真基础上实现CMOS电路的最大功耗估算 .同时用逻辑仿真的统计方法来衡量获得最大功耗的质量 .基于ISCAS85和ISCAS89基准电路的仿真表明 ,新方法在大规模门数时具有明显的优势 ,估算精度较高 .而且新方法的计算时间基本上是电路逻辑门的线性关系 .

摘要：在基于硬件描述语言 VHDL的电路系统综合中 ,系统的实际功能是由各种形式的赋值语句来描述的 ,而赋值语句的核心是各种形式的表达式 .当设计的规模变大后 ,去除大量冗余的赋值语句和公共子表达式 (含运算的重定序问题 )就成为关系到所设计系统性能的两类重要的优化问题 .对各种可能出现的赋值语句组合情况进行研究后 ,得到一系列的处理规则 ,进而提出一种基于规则的算法 ,用来消除赋值语句冗余 ;对于第二类问题的两个子问题 ,通过一种基于代数中基本定律的算法同时解决之 .实验结果表明 ,解决第一类问题的算法在处理赋值语句冗余和二义性方面是有效的 ,解决第二类问题的算法比传统的 DAG算法更具普适性 .

摘要：提出寄存器传输级工艺映射 (RTLM)算法 ,该算法支持使用高层次综合和设计再利用的现代VLSI设计方法学 ,允许复杂的RT级组件 ,尤其是算术逻辑单元 (ALU)在设计中重用 .该映射算法使用目标ALU组件来实现源ALU组件 ,映射规则通过表格的方式给出 .此算法对于规则结构的数据通路特别有效 .应用k阶贪婪算法的实验结果表明 ,RTLM在高层次综合中对数据通路组件再利用是一种有效的方法 .

摘要：深亚微米时代芯片互连对芯片性能的影响加剧 ,对物理设计方法、工具与算法的集成提出了新的要求 在对XML技术进行分析的基础上 ,提出基于可扩展物理设计数据标记语言的集成方法 借助结构化和面向对象分析技术 ,对物理设计阶段的信息进行整理分析 ,设计了一种易于扩展的基于对象的结构化数据模型和物理设计数据可扩展标记语言PhyD XML 。

摘要：DAG- MAP是一个面向延迟优化的 FPGA工艺映射算法 ,其中的标记过程是该算法的核心 .文中对原算法中的标记过程进行了研究 ,提出了一个改进的标记方法 .对 MCNC标准测试电路所做实验的结果表明 ,该算法比原算法更为有效 。

摘要：传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,由于反向回溯的次数过多 ,往往会降低算法的效率 .文中利用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ,把传统算法中的反向回溯过程转换为 OBDD图的问题 ,从而加快了故障测试的速度 .同时 。