摘要：针对传统组合逻辑电路存在的硬件资源利用率低和功耗高等问题,提出了一种基于忆阻器和CMOS晶体管的存算一体化组合逻辑电路设计方案。利用忆阻器存算一体、结构简单、与CMOS器件兼容等特性,减少了电路元器件数量。首先利用忆阻器的非易失性和阻变特性,设计忆阻与门、或门,结合CMOS晶体管实现与非门、或非门;然后,利用器件存算一体特性,提出了4R2T结构的异或门及同或门电路;最后,基于忆阻逻辑完备集设计了乘法器电路和图像加密电路,并采用LTspice验证电路功能正确性。结果表明,相比传统电路,所设计的乘法器电路元器件数量减少了50%,具有低功耗特性;所设计的图像加密电路具有良好的加密和解密效果,提升了运算效率。

摘要：通过实验方法准确而全面的测试得到蓄热型波纹板流动和传热性能,对于开发和设计紧凑换热器具有重要意义。瞬态实验方法可以求得蓄热型波纹板时间和空间上的平均传热系数,也即当量传热系数。单吹技术是一种应用单一流体的相对简单的瞬态实验方法,考虑蓄热型波纹板通道内波形板和定位板与空气层传热接触面积不同,拓展了单吹技术数学模型,并建立了相应的计算程序。将现有单吹实验装置中冷、热风进口分离开来,避免冷风流经加热装置,有效提高现有单吹实验装置的综合效率。测得DU-K(double corrugated-kaier,DU-K)波纹板的流动传热特性与Re拟合曲线,与文献中DU(double corrugated,DU)波纹板进行比较,在Re为1 000~11 000时,其传热特性平均比DU波纹板低17.41%,流动阻力平均比DU波纹板要低55.96%.针对DU-K与DU波纹板几何结构的不同,分析了DU-K综合特性较DU得以改善的原因。

摘要：针对小磁瓦成像不清晰、检测难度大、对比度低、纹理背景复杂、亮度不均匀、缺陷区域小及缺陷种类多等问题,提出了一种小磁瓦表面微缺陷的视觉检测方法。首先,根据小磁瓦弧形表面、倒角及缺陷区域对成像的影响,通过分析了小磁瓦表面图像中缺陷区域与正常区域的灰度、灰度梯度及缺陷形态的差异,将其表面缺陷类型划分为3类;其次,根据3类表面缺陷的成像特点、缺陷形态特征及与背景区域的关系,分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型等条件下,利用开发的实验装置进行了实验分析。研究结果表明:提出的小磁瓦表面微缺陷提取算法稳定性好、鲁棒性强,能够准确、快速地提取小磁瓦表面中的缺陷区域,检测准确率可达93. 5%。