摘要：提出一种基于OpenLane的专用集成电路(ASIC)设计工具的设计方案.以Gambas开发环境为基础,利用插件技术实现对OpenLane工具链的集成,完成基于OpenLane的ASIC设计工具,即EasyASIC.该工具涵盖工程管理、代码编辑、Verilog代码的编译、仿真、OpenLane初始化文件的配置、GDSII文件的生成、GDS2D和GDS3D显示等功能,从而实现ASIC设计的自动化.以32 bit有符号乘法器为例,对该工具进行功能验证测试.实验结果表明,EasyASIC能够在国产Deepin操作系统下流畅运行,实现32 bit有符号乘法器从寄存器传输级文件描述向GDSII文件的转换,该工具有很强的操作性和易用性,对于提升我国集成电路设计工具软件产业水平具有一定的参考意义.

摘要：本文介绍一个具有先进水平的可用于小型ＡＳＩＣ（专用集成电路）芯片设计的ＥＤＡ（电子设计自动化）工具软件ＣｈｉｐＭａｋｅｒ，阐述了该系统的功能，设计思想和基本结构。

摘要：(2) 开关特性测试的测试图案 现以图4—17为例,说明用于开关特性测试的测试图案设计方法。 ①在被测输入和输出波形的沿上标以“o”。 ②在预定位置指定被测引腿间延迟时间,例如表中引腿1至引腿21的延迟时间为15ns,引腿1至引腿51的延迟时间为23ns。 ③开关测试点的数目有一定限制。 ④在进行开关测试的时候,仅仅开关测试的输入信号可以变化。 (3)

摘要：与门海数字电路阵列相类似 ,模拟电路阵列也是半定制集成电路设计的母体形式的一种。首先介绍了母体单元结构布局 ,然后描述了其电路的实现。在以上模拟电路阵列母体上 。

摘要：在ASIC的工艺制作过程中,会因各种缺陷而造成器件失效。例如栅氧化层的针孔;多晶硅、扩散区或金属连线的短路或开路;接触孔缺陷、沾污以及芯片的晶体缺陷等。此外,还有设计失误,如门的输出驱动能力不够等。显然,对于这些失效器件,必须通过芯片测试和成品测试检测出来。 过去在测试规模不太大的IC时,测试图案一般由人工生成。但随着电路复杂程度的增加,完全由人工生成测试图案实际上已不可能,因此逐渐被自动生成方法所代替。即便如此,由于其对测试设备的高标准要求以及开发测试程序所需费用的大量增加等因素。

摘要：本文简要介绍光电开关的特点和光电开关专用集成电路的设计、性能和应用.

摘要：本文介绍了一个专用集成电路芯片的测试仪。该测试仪由测试硬件和测试软件两大部分组成，采用ＤＳＰＴ测试方法，能进行单、双向测试。

摘要：温度是影响微加速度计性能的一个重要的因素。本文在分析微加速度计系统的基础上,设计并实现了电容式微加速度计专用集成电路,通过软件仿真和实际的温度试验,研究了专用集成电路的温度特性,给出了仿真和实测结果,并进行了相应的对比和分析。实测结果表明：在？40~120℃温度范围内,专用集成电路芯片输出随温度的输出变化为68.75μV/℃,即6.875×10-5。

摘要：由于专用集成电路具有用途广泛、功能特殊、内部电路复杂的特点,因此很难用通用的测试方法全面检测其静、动态参数。针对这一问题,并根据数字专用集成电路芯片HB0202的成测需要,设计了一套专用检测系统,介绍了系统的硬件设计和软件设计过程。

摘要：文中运用ＣＡＤ手段，设计了ＸＤＪ０４受控稳压模拟专用集成电路芯片的电路和版图，经过加工后得到一个具有实用价值的ＡＳＩＣ芯片．在电池供电时，它可以提供精确的稳压输出以驱动直流步进电机，并可以用单片机输入数字量对其进行控制．这种ＡＳＩＣ芯片在电子系统尤其是家电产品中有着广泛的应用前景。