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基于丢失缺陷的IC互连线失效评估新模型
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《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》2002年 第1期22卷 33-35,62页
作者:赵天绪 段旭朝 姜晓鸿宝鸡文理学院数学系陕西宝鸡721007 宝鸡文理学院物理系陕西宝鸡721007 西安电子科技大学应用数学系陕西西安710071 
在分析现有的集成路互连线失效评估模型的基础上 ,提出了一种考虑丢失物缺陷影响的IC互连接线电迁移损失新模型 .在 IC电路设计中 ,这种新模型可用于估计与丢失物缺陷及其它因素有关的
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